1、将探头插入主机探头插座。
2、按ON键开机进入系统设置。
3、设定探头频率；按MODE键移动光标至下图位置，按ENTER键将依次显示2M、5M、10M、H2M需要设定的探头频率。
4、声速调整：按VEL键进入声速状态，屏幕将显示当前声速存储单元的内容。每按一次，声速存储单元变化一次，可循环显示五个声速值。如果希望改变当前显示声速单元的内容，用↑或↓键调整到期望值即可，同时将此值存入该单元。
5、测定厚度：先设置好声速，然后将耦合剂涂于被测处，将探头与被测材料耦合即可测量，屏幕将显示被测材料厚度，拿开探头后，厚度值保持，耦合标志消失。
6、测量声速：先用卡尺测量试块，准确读取厚度值。将探头与已知厚度试块耦合，直到显示出厚度值，拿开探头后，用↑或↓键将显示值调整到实际厚度值，然后按VEL键即可显示被测声速，同时该声速被存入当前声速存储单元，声速测量必须选择足够厚度的试块，推荐最小壁厚为20.0mm，进行声速测量时应关闭最小捕捉和二点校准功能。
7、设置限界：1）按MODE键移动光标至LIMIT；2）按ENTER键分别显示原设定的下限或上限，用↑或↓键设置新的下限或上限；3）按VEL键或MODE键或进行测量推出界限设置。
8接收增益设置：两种增益选择，LOW和HIGH，LOW增益用于测量散射大、声吸收小的粗晶材料。
9、测量单位和显示分辨率：按MODE键移动光标至MENU，按ENTER键进入主菜单，用↑↓键至系统设置，按ENTER键显示米制或英制；按↑↓键选择Resolution，按ENTER键显示HIGH（0.01mm）LOW(0.1mm)；按VEL键退出设置。
10、最小测量值捕捉：捕捉一组测量值中最小的数值。按MODE键选择菜单进入System setup按↑或↓键选择Min capture 按ENTER键显示ON、OFF。按VEL键退出设置
二点校准：选择与被测物的材料、声速及曲率相同的两个标准试块，其中一个试块的厚度等于或略高于测量范围的上限，另一个试块厚度尽可能接近测量范围的下限，进行二点校准。按MODE键移动光标至MENU→System setup→2-Point CAL→按ENTER键选ON或OFF。选ON后进入二点校准，屏幕提示校准薄块，即测量薄块用↑或↓键将测量值调整到标准值；按ENTER键屏幕提示校准厚块，即测量厚块用↑或↓键将测量值调整到标准值，按ENTER键完成校准操作即可进行测量。